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HORIBA XploRA Nano 簡介
產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品品牌
HORIBA堀場
產(chǎn)品類型
光譜儀
可售賣地
面議
價格區(qū)間
面議
供貨總量
面議
售后服務(wù)
完善
產(chǎn)品簡介
這是一套領(lǐng)先的掃描探針顯微鏡SmartSPM和 XploRA plus的耦合系統(tǒng)。
XploRA Nano系統(tǒng)，緊湊、全自動、易于使用，這是一套已經(jīng)得到證實了的經(jīng)濟適用的高度集中原子力顯微鏡-拉曼的全功能系統(tǒng)，它幫助大家實現(xiàn)TERS成像。
HORIBA XploRA Nano 詳情介紹
多樣品分析平臺
宏觀、微觀和納米尺度的測量可以在同一個平臺上進行
簡單易用
全自動操作，在幾分鐘內(nèi)即可開始測量，而不是幾小時！
真正的共聚焦
高空間分辨率，自動樣品臺，全顯微鏡可視化。
高收集效率
頂部和側(cè)向拉曼光譜檢測都可以獲得高分辨和高通量測量同區(qū)域和針尖增強光譜測量（TERS和TEPL)
高光譜分辨率
高光譜分辨能力，多光柵自動切換，寬光譜范圍的拉曼和光致發(fā)光分析。
高空間分辨率
針尖增強的納米級光譜分辨率（優(yōu)于10nm）
豐富的光學(xué)光譜（拉曼和光致發(fā)光）
多技術(shù)/多環(huán)境
結(jié)合TERS/TEPL化學(xué)成像的多模式SPM技術(shù)包括AFM、導(dǎo)電和電學(xué)模式（cAFM、KPFM）、STM、液池和電化學(xué)環(huán)境。一個工作站和強大的軟件即可對兩臺儀器進行完全控制，SPM和光譜儀可以同時或獨立操作。
堅固性/穩(wěn)定性
高共振頻率AFM掃描器，遠離噪音干擾！高性能表現(xiàn)，無需主動隔振系統(tǒng)。
HORIBA XploRA Nano產(chǎn)品規(guī)格
關(guān)于進佳儀器
上海進佳科學(xué)儀器有限公司，擁有多個國外儀表行業(yè)品牌的授權(quán)代理證，旗下每一個品牌均歷經(jīng)市場的考驗。公司團隊擁有豐富的從業(yè)經(jīng)驗以及扎實的專業(yè)知識，對各個品牌的產(chǎn)品優(yōu)勢和市場定位有深入了解。公司始終秉持以客戶為中心的理念，致力于為客戶提供全方位、個性化的服務(wù)解決方案。公司代理品牌
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HORIBA堀場電容壓力計VG200
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